Mikroskop polaryzacyjny Jena-Zeiss Metoda badań: Mikroskopia optyczna Kontakt: Prof. dr hab. Sławomir Mielcarek, miel@amu.edu.plZakład Fizyki Nanomateriałów, Wydział Fizyki UAM Możliwości badawcze: Badania ciał stałych i cieczyPraca w świetle przechodzącym lub odbitymMożliwość rejestracji cyfrowej obrazuZakres pracy temperatur od 90-800KPowiększenie maksymalne 750x Wyposażenie: Przystawka temperaturowa Linkam (90-800K) Nawigacja wpisu Poprzedni Poprzedni wpis: Spektrometr EPR na pasmo XNastępny Następny wpis: Nanosekundowy spektrometr absorpcyjny