Metoda badań:
Mikroskopia sił atomowych (AFM) i metody pokrewne
Kontakt:
prof. UAM dr hab. Mateusz Kempiński, matt@amu.edu.pl
Zakład Fizyki Eksperymentalnej Fazy Skondensowanej, Wydział Fizyki UAM
Możliwości badawcze:
- Obrazowanie nanostruktur powierzchniowych w modach kontaktowym i bezkontaktowym (cAFM, ncAFM)
- Mikroskopia z detekcją fazową (PDM)
- Mikroskopia sił bocznych (LFM)
- Skaningowa mikroskopia pojemnościowa (SCM)
- Określanie szorstkości powierzchni i rozmiarów nanostruktur
Wyposażenie:
- Mikroskop Park XE7
- Skaner 50×50 𝜇m2
- Przystawka SCM ze wzmacniaczem lock-in SR830 DSP
- Stolik antywibracyjny
- Kamera optyczna
